Гаркунов Д.Н. Триботехника. Износ и безызносность. Страница 402

Для более глубокого изучения структуры сервовитной пленки JI.М. Рабакова и Л.И. Куксенова разработали метод исследования тонких поверхностных слоев с использованием "скользящего" пучка рентгеновских лучей [67]. Метод позволяет без разрушения поверхности проводить послойный анализ исследуемых материалов путем только изменения угла между лучом и отражающей поверхностью. Изменяя этот угол, можно получить информацию о состоянии слоев материала разной (заданной) толщины (рис 1.12).

При а —>0 толщина анализируемого слоя уменьшается, достигая малого значения при a = 1(/...30' (в зависимости от длины волны рентгеновских лучей Я и плотности материала). Указанные значения угла а являются предельными. При меньших а наблюдается явление полного внешнего отражения, не позволяющего получить интерференционную картину рентгеновских лучей от исследуемого материала. Для того чтобы получить информацию от слоев металла малой толщины и проводить послойное исследование с заданным шагом (сканирование по глубине), необходимо иметь узкий пучок лучей малой расходимости. Для этого авторы данного метода создали рентгеновскую камеру со специальным коллимационным устройством, которое обеспечивает формирование узкого и практически параллельного пучка рентгеновских лучей, падающих на исследуемую поверхность образца.

Небольшому коллективу энтузиастов под руководством JI.M. Рыбаковой удалось разработать рентгеновскую камеру, которая позволила исследовать деструкцию пластически деформированного металла на глубине до 0,1 мкм [65—-68],

Ниже рассмотрены результаты анализа интерференционной картины на рентгенограммах, полученных при послойных съемках скользящим пучком рентгеновских лучей меди и ее сплавов, трение которых протекало в условиях избирательного переноса [69]. Особое внимание уделялось изменениям в тонких поверхностных слоях, измеряемых долями микрометра, и которые ранее в связи с отсутствием соответствующих методов для их анализа выпадали из поля зрения исследователей.