Гинзбург В.М. Голография Методы и аппаратура. Страница 233

До сих пор речь шла о диффузно отражающих объектах. Известно, однако, что методы их исследования на основе голографической интерферометрии можно перенести на фазовые или зеркально отражающие объекты, освещенные через диффузный рассеиватель [5]. Как пример приведем схему фазового объекта, закрытого от голограммы диффузным рассеивателем [6]. На рис. 8.24, а, б представлены схемы исследования фазового объекта по работе [6] и в варианте сдвиговой голографии ин

тенсивности [4]. По схеме рис. 8.24, б сдвиг определяется билинзой интерферометра СИ-2, создающей в плоскости фотопластинки два изображения диффузного рассеивателя. Вид интерференционной картины, полученной на восстановленном изображении по схемам рис. 8.24, а, б, не зависит от угла наблюдения, так как при таком методе записи фазовый объект освещается в одном направлении.

Из описанных свойств и примеров использования интерферометра СИ-2 следует, что его можно рекомендовать для исследования деформаций поверхности и определения геометрических параметров диффузно отражающих объектов, в том числе и для внестендовой голографической интерферометрии, а также для исследования фазовых объектов при расположении диффузного рассеивателя между объектом и голограммой.

8.4. Установка для регистрации СВЧ голограмм (УИГ-3)

Установка УИГ-3 [1,7] предназначена для регистрации СВЧ голограмм, записи их в уменьшенном масштабе на фотопластинках, а также для записи сигналов, описывающих СВЧ голограммы, на магнитную ленту для последующего ввода в ЭВМ. Регистрация голограмм производится методом сканирования одиночным или двумя работающими параллельно приемниками-перемножителями. В установке используется искусственное формирование опорной волны.

УИГ-3 можно использовать для различных экспериментов по голографическому радиовидению, голографической СВЧ интерферометрии, для измерения амплитудно-фазовых распределений в раскрывах антенных устройств и отбраковки антенных устройств по корреляционным критериям, она может быть полезна и при других антенных измерениях.