Гинзбург В.М. Голография Методы и аппаратура. Страница 231
Интерферометрия сдвига [3] широко применяется для исследования фазовых или зеркально отражающих объектов. Однако для диффузно отражающих объектов применение сдвиговой интерферометрии как в классическом, так и в голографическом вариантах до последнего времени считалось принципиально невозможным. Действительно, микроструктура поверхности диффузно отражающего объекта описывается как реализация стационарного случайного процесса, зависящего от пространственных координат. При сдвиге на величину, превышающую радиус корреляции (область когерентности) и определяющуюся разрешением оптической системы сдвигового интерферометра, функция корреляции (функция взаимной когерентности), описывающая контраст
интерференционных полос, становится равной нулю. По этой же причине считается невозможным и прямое интерференционное сравнение различных диффузно отражающих объектов. Как показано в [4], принцип сдвиговой интерферометрии интенсивности, заложенный в СИ-2, позволяет обойти это ограничение.
Рассмотрим сначала применение интерферометра СИ-2 [4] для исследования перемещений точек поверхности объекта под действием деформирующей нагрузки (рис. 8.20). В плоскости изображения билин- эа создает два изображения объекта, сдвинутых на величину А. В § 7.5 при выделении проекций вектора перемещения Arx, Arlj перекрестный
член V (х, y)V {х, у) в уравнениях (7.38), (7.39) описывал взаимную интенсивность диффузно когерентного излучения, рассеянного одними и теми же точками поверхности объекта по различным направлениям. В данном случае V (х, y)V (х, у) заменяется на V (х, y)V (х + Ад:, у) и сдвиговая интерферограмма интенсивности (рис. 8.21) на восстановленном изображении определяется выражением
В отличие от интерферограмм, описываемых (7.40), (7.42), сдвиговая интерферограмма обусловлена не абсолютным, а относительным перемещением точек поверхности исследуемого объекта под действием деформирующей нагрузки, поэтому при сравнительно больших абсолютных перемещениях, не превышающих длину когерентности, определенную в (7.43), можно, регулируя величину сдвига, измерять малые относительные перемещения. Измерение относительных перемещений полезно и по другой причине: они упрощают вычисление деформаций и напряжений. Отметим, что расчет относительных перемещений по одной интерферограмме можно сделать в случае, если одна из проекций вектора перемещения много больше двух остальных, которыми можно пренебречь.
