Гинзбург В.М. Голография Методы и аппаратура. Страница 220

объектов как в проходящем, так и в отраженном свете. Кроме этого, прибор можно использовать для макетирования двумерных оптических систем и проведения экспериментов в области интерферометрии.

Интерферометрический стол выполнен в виде массивной плоской плиты с амортизирующим устройством. На рабочей поверхности плиты сделана система Т-образных пазов, по которым перемещаются и жестко крепятся к плите рейтеры с оптическими узлами стола (рис. 8.8). Конструкция рейтера обеспечивает простое перемещение, несложное снятие и установку оптического узла практически в любой точке плиты. Роль амортизирующего устройства выполняют виброопоры и система сообщающихся воздушных подушек, на которых лежит плита с оптическими узлами стола. Наполнение подушек воздухом до давления 0,1—0,2 атм производится либо от магистрали, либо обычным автомобильным насосом. В нерабочем состоянии воздух из подушек выпускается, и плита с оптическими узлами ложится в конусы нижней плиты, опирающейся на виброопоры установки.

Прибор СИН комплектуется оптическим квантовым генератором ЛГ-36 и большим количеством оптических деталей и узлов: разнообразными плоскими пластинками, зеркалами, линзами, мирами, кассетами, микроскопом, зрительной трубой и т. д.

Голографические установки УИГ-2М и УИГ-2А. Установки УИГ-2М и УИГ-2А [1] предназначены для проведения широкого круга голографических исследований с помощью лазера непрерывного действия. Установки снабжены антивибрационной пневматической подушкой, защищающей рабочую плиту от вибраций, на которой крепятся различные элементы схемы. Опыт эксплуатации показал, что установки обеспечивают качественное выполнение работ в условиях производственных помещений. Установки содержат гелий-неоновый лазер ЛГ-36А и комплект приспособлений, позволяющих проводить следующие голографические исследования: получение голограмм стационарных объектов; голографических интерферограмм фазовых и отражающих объектов методом двойной экспозиции и в реальном масштабе времени, голографических интерферограмм фазовых микрообъектов. На установках могут проводиться исследования характеристик поля излучения различных типов ОЮ\и элементов оптических трактов.