Гинзбург В.М. Голография Методы и аппаратура. Страница 154

Как следует из рассмотрения общих соотношений (5.49) и (5.50), положение интерференционных полос относительно изображения меняется при изменении направления наблюдения на объект, а шаг между интерференционными полосами непостоянен и меняется с изменением расстояния от поверхности объекта до границы раздела сред. Постоянный шаг по глубине изображения может быть получен только при освещении объекта плоской волной и при регистрации-изображения по направлению, нормальному к границе раздела, когда все косинусы в (5.51) равны 1 и тогда

Проведем сравнительный анализ рассмотренных методов исходя из возможностей их практической реализации. На рис. 5.18 приведены схемы, показывающие взаимное расположение мнимого изображения объекта, интерференционных полос, источников освещения S и голограммы Г. Очевидно, что при всех методах регистрироваться, а следовательно, и восстанавливаться будет та часть объекта, которая освещена (незаштрихованная область на рисунке). Таким образом, чтобы была зарегистрирована большая часть объекта, обращенная к голограмме, источники освещения должны быть расположены по возможности ближе к линии регистрации (наблюдения) изображения.

Для получения горизонталей объекта относительно направления наблюдения по методу нескольких источников последние должны быть удалены от объекта. Линия, соединяющая источники, должна быть

параллельна направлению наблюдения (рис. 5.18). При таком освещении часть объекта оказывается в тени и не регистрируется. Можно применить косое освещение объекта, когда источники S1 и S2 смещены в сторону голограммы и к линии наблюдения изображения. Теперь большая часть объекта будет регистрироваться на голограмме, но в этом случае контурные линии не являются горизонталями относительно направления наблюдения (регистрации). Этот недостаток косого освещения не имеет существенного значения, если применять рассмотренный дальше способ обработки изображения. Метод нескольких источников обладает рядом преимуществ. Он позволяет в одной схеме простыми средствами меінять в широком диапазоне период интерференционной картины от нескольких микрон до нескольких миллиметров, практически меняя лишь угол схождения освещающих потоков, а также вид интерференционной картины в зависимости от формы исследуемой поверхности. Метод позволяет исследовать форму поверхностей как стационарных, так и динамических объектов. Интерференционные полосы в изображении локализованы на поверхности» объекта. Метод прост в практической реализации.